電子線ダメージを抑制した構造観察が可能です
各種材料の形態をnmレベルで把握するにはTEM分析が極めて有効ですが、高分子を始めとするソフト材料には、観察（電子線照射）時にダメージを受け、試料本来の形態を維持した分析が困難なものが数多くあります。当社では、冷却機能付TEMを駆使することにより、ダメージを抑制した構造観察を行うことが可能です。
PTFEの冷却TEM観察
ポリテトラフルオロエチレン（PTFE）は高分子のひとつであり、耐摩耗性，耐熱性，耐薬品性に優れ工業用途や一般用途に広く利用されています〔図1〕。 しかし、このPTFE粉末について、常温でTEM観察すると、電子線照射直後からC-F結合が切れ、粒子の変形が認められます〔図2A〕。 そこで、冷却TEMを用いると、C-F結合の切断を遅らせることができ、粒子の変形を抑制した観察が可能となります〔図2B〕。 このように、ハロゲンを含む材料の構造観察には冷却TEMが強い味方となります。
対象試料
- フッ素系のコート剤, 離型剤, 潤滑油, ゴム, フィルムなど。
高分子分析の中で、冷却機能付きTEMを駆使し、電子線照射時のダメ－ジを抑制してPTFEの構造を観察したした事例をご紹介しました。
冷却機能付きTEMを駆使し、熱ダメ－ジを抑制してラテックス粉末の構造を観察した事例もございます。
