蛍光X線分析装置
X-Ray Fluorescence spectrometry（XRF）
概要
試料にX線（一次X線）を照射して得られた蛍光X線（特性X線）を分光結晶で分光し、元素の特定を行います。試料中に含まれているB（ボロン）からU（ウラン）までの元素を数100～数ppmオーダーで分析ができます。
特徴
- 前処理なしで迅速に分析可能
- 非破壊分析
- ファンダメンタルパラメーター（FP）法を用いて標準試料なしに半定量が可能
- SEM-XMAよりも大きな面積の元素分析が可能
測定対象試料と必要量
高分子材料、複合材料、無機化合物、金属
固体等：10g程度
液体試料：0.5mL程度
注）粉体はプレスして、液体はろ紙に滴下して、分析を行います。
