微小異物分析の紹介
材料表面や内部に異物が発生すると外観不良、接着不良、電気的な接触不良等の不具合が発生します。これら異物の存在状態や成分を分析、同定することにより異物の発生要因を突き止め、各種不具合を防ぐ対策の検討が可能となります。当社には異物分析における多くの経験と蓄積したデータがあります。
顕微鏡観察
サンプリング前の異物の写真撮影を行います。
光学顕微鏡(OM)
異物を顕微鏡下で確認します。必要であれば、分析前に写真撮影します。
- 費用目安：1万円～/検体
前処理
必要に応じて異物の分離を行います。
サンプリング、切断
異物の大きさや存在状態および分析方法を考慮し必要に応じて、適切な試料調製を行います。
- 費用目安：0.4～10万円/検体
分析
有機物
無機物
電界放射型走査電子顕微鏡-X線マイクロアナライザ(SEM-XMA)
異物の形状観察と元素組成分析、有機物の形態が知りたい場合にはSEM観察を行います。
- 費用目安：5～10万円/検体
混合物
有機・無機の混合物や、どちらの可能性も考えられる場合には、有機物、無機物の両方の分析を行います。
異物の特定および総合解析
分析結果より異物成分を判断します。また、分析・解析結果より導き出された成分の妥当性をご相談します。必要に応じて、異物発生の原因と推測される標準物質の測定も行い、データの比較を行います。
※異物の存在状態により、上記料金と異なる場合があります。詳細につきましてはご相談下さい。
